SPA6100寬量程半導體參數分析儀的簡單介紹是普賽斯自主研發、精益打造的一款半導體電學特性測試系統,具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優勢。產品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特SPA6100寬量程半導體參數分析儀的詳細信息SPA6100寬量程半導體參數分析儀配置有多種不同規格的SMU,如低壓直流SMU、低壓脈沖SMU、大電流SMU;用戶可根據測試需求靈活配置不同規格,以及不同數量的搭配。 概述: SPA-6100半導體參數分析儀是武漢普賽斯自主研發、精益打造的一款半導體電學特性測試系統,具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優勢。產品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試,旨在幫助加快前沿材料研究、半導體芯片器件設計以及先進工藝的開發,具有桌越的測量效率與可靠性。 基于模塊化的體系結構設計,SPA-6100半導體參數分析儀可以幫助用戶根據測試需要,靈活選配測量單元進行升級。產品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分辨率的測量,同時檢測10kHz至1MHz范圍內的多頻AC電容測量。SPA-6100半導體參數分析儀搭載普賽斯自主開發的專用半導體參數測試軟件,支持交互式手動操作或結合探針臺的自動操作,能夠從測量設置、執行、結果分析到數據管理的整個過程,實現高效和可重復的器件表征;也可與高低溫箱、溫控模塊等搭配使用,滿足高低溫測試需求。 產品特點: 30μV-1200V,1pA-100A寬量程測試能力; 測量精度高,全量程下可達0.03%精度; 內置標準器件測試程序,直接調用測試簡便; 自動實時參數提取,數據繪圖、分析函數; 在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布線; 提供靈活的夾具定制方案,兼容性強; 免費提供上位機軟件及SCPI指令集; 典型應用: 納米、柔性等材料特性分析; 二極管; MOSFET、BJT、晶體管、IGBT; 第三代半導體材料/器件; 有機OFET器件; LED、OLED、光電器件; 半導體電阻式等傳感器; EEL、VCSEL、PD、APD等激光二極管; 電阻率系數和霍爾效應測量; 太陽能電池; 非易失性存儲設備;
失效分析;
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