半導體微小零部件高通量缺陷檢測與分揀關鍵技術研究啟動會召開
作者： 2021年10月28日 來源： 瀏覽量：
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10月20日下午，安徽省重點研究與開發計劃“半導體微小零部件高通量缺陷檢測與分揀關鍵技術研究”項目啟動會在中科院合肥研究院智能所召開。省科技廳相關領導，智能所黨委書記吳麗芳、副所長宋全軍出席此次會議。
10月20日下午，安徽省重點研究與開發計劃 “半導體微小零部件高通量缺陷檢測與分揀關鍵技術研究” 項目啟動會在中科院合肥研究院智能所召開。省科技廳相關領導，智能所黨委書記吳麗芳、副所長宋全軍出席此次會議。
項目專家組由合肥工業大學、安徽大學和合肥研究院等單位的專家學者組成，組長為鄭春厚。項目負責人王耀雄匯報了項目進展。專家組對項目前期工作、項目技術路線和組織實施情況給予了積極評價，就項目開展過程中需要注意的問題給出了指導性意見。會議結束后，專家組一行人參觀了智能感知技術研究中心實驗室高速視覺等研究成果。
“半導體微小零部件高通量缺陷檢測與分揀關鍵技術研究”項目由智能所主持，合肥晶威特電子有限責任公司、安徽潤谷科技有限公司聯合承擔，該項目面向3C領域半導體零部件表面缺陷品控需求，開展精準采樣、高速缺陷識別及穩定分揀技術研究，研制半導體微小零部件高通量分揀裝備并在行業頭部企業產線示范應用。項目的順利啟動，對促進智能所在半導體微小零部件分揀關鍵技術積累、增強我省在半導體產業鏈品控環節的行業競爭力具有重要意義。
智能感知中心主任宋博、副主任聶余滿，合肥晶威特電子有限責任公司技術中心副主任汪鑫、安徽潤谷科技有限公司聯系人汪涵、財務總監畢冬琴，及項目相關成員參加此次會議。
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