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思達(dá)科技發(fā)布新一代先進(jìn)高生產(chǎn)量Micro-LED測(cè)試系統(tǒng)

作者: 2019年10月17日 來(lái)源:全球化工設(shè)備網(wǎng) 瀏覽量:
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近日,光學(xué)器件測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商思達(dá)科技發(fā)布新一代先進(jìn)高生產(chǎn)量Micro-LED測(cè)試系統(tǒng) – 思達(dá)獨(dú)角獸Unicorn-LAIT。此系列測(cè)試系統(tǒng)是先進(jìn)的Micro-LED集成測(cè)試系統(tǒng),具有并行測(cè)試儀器,測(cè)試探針臺(tái)和探針卡,適合測(cè)試Micro-
  近日,光學(xué)器件測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商思達(dá)科技發(fā)布新一代先進(jìn)高生產(chǎn)量Micro-LED測(cè)試系統(tǒng) – 思達(dá)獨(dú)角獸Unicorn-LAIT。此系列測(cè)試系統(tǒng)是先進(jìn)的Micro-LED集成測(cè)試系統(tǒng),具有并行測(cè)試儀器,測(cè)試探針臺(tái)和探針卡,適合測(cè)試Micro-LED 和 Mini-LED,滿(mǎn)足了批量生產(chǎn)需要。
 
  思達(dá)獨(dú)角獸Unicorn-LAIT系統(tǒng)是實(shí)現(xiàn)符合成本效益的LED批量生產(chǎn)的先進(jìn)集成測(cè)試系統(tǒng)。配備的Magic-A200e探針臺(tái),可執(zhí)行最大至6吋晶圓和探針卡校準(zhǔn)的自動(dòng)化探測(cè)測(cè)試;基于思達(dá)金牛座Taurus-LPX的平行測(cè)試儀,參數(shù)量測(cè)單元(PMU,Parametric Measurement Unit)能夠執(zhí)行48至240個(gè)LED的并行量測(cè)。具備執(zhí)行效率的系統(tǒng)架構(gòu),使思達(dá)獨(dú)角獸Unicorn-LAIT適合LED行業(yè)晶片制造商,和光學(xué)器件制造商的需要。
 
  這套系統(tǒng)搭配電磁干擾屏蔽室,為高速的LED測(cè)試過(guò)程提供超低噪聲的環(huán)境。Magic-A200e配置的閉環(huán)XYZ平臺(tái)和具專(zhuān)利的同軸顥微鏡,確保了多站點(diǎn)LED步進(jìn),和高分辨率掃描,以及探測(cè)的最佳精度。此外,多孔陶瓷夾具與申請(qǐng)專(zhuān)利的輔助夾具,易于清潔且能進(jìn)行接觸檢查,可以提高LED測(cè)試性能。
 
Magic A-200e探針臺(tái)配置的閉環(huán)XYZ平臺(tái)和具專(zhuān)利的同軸顯微鏡
 
  同時(shí),思達(dá)金牛座Taurus-LPX是高生產(chǎn)量的參數(shù)量測(cè)單元(PMU),它具有不同的電壓和電流范圍,每個(gè)模組配置48個(gè)通道,最多可到5個(gè)模組。基于FPGA固件控制和高速ADC,金牛座Taurus-LPX能執(zhí)行高速并行測(cè)試,以確保測(cè)試生產(chǎn)量,且有良好的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。
 
Taurus-LPX 是高生產(chǎn)量的參數(shù)量測(cè)單元
 
  思達(dá)牡羊座Aries-PCT探針卡是一款長(zhǎng)壽命的多待測(cè)器件的Micro-LED測(cè)試探針卡,最高可觸點(diǎn)48個(gè)LED器件(最多240個(gè)),可與96個(gè)探針進(jìn)行單觸式觸碰測(cè)試。此款并行器件測(cè)試探針卡,可以和CDA一同設(shè)置,用以清除探測(cè)殘留碎片和晶片顆粒。LED可配置用于不同的器件測(cè)試要求,像是VF、IF等等,而特殊的高電壓探針,可配置用于ESD器件測(cè)試。
 
  思達(dá)科技執(zhí)行長(zhǎng)劉俊良博士表示,“思達(dá)科技自成立以來(lái),長(zhǎng)期關(guān)注在行業(yè)測(cè)試解決方案的研發(fā)。思達(dá)獨(dú)角獸Unicorn-LAIT測(cè)試系統(tǒng)是真正符合Micro-LED 和Mini-LED的測(cè)試挑戰(zhàn)。采用了先進(jìn)的測(cè)試探針臺(tái)和并行參數(shù)量測(cè)單元,是專(zhuān)為L(zhǎng)ED器件設(shè)計(jì)和開(kāi)發(fā)的探測(cè)測(cè)試解決方案,可幫助客戶(hù)降低測(cè)試成本,同時(shí)提供生產(chǎn)量的改善,以滿(mǎn)足新一代器件的測(cè)試挑戰(zhàn)。”
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