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激光功率計(jì)探頭原理及校準(zhǔn)

作者: 2018年08月22日 來源:全球化工設(shè)備網(wǎng) 瀏覽量:
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激光激光功率計(jì)探頭原理及校準(zhǔn)功率計(jì)探頭激光功率計(jì)探頭原理光電探頭光電二極管原理:光電二極管的核心部分是個(gè)PN結(jié),當(dāng)在PN結(jié)加上適當(dāng)反向電壓時(shí),由于缺乏載流子,PN結(jié)內(nèi)無電流通過。當(dāng)光子照射在PN結(jié)上時(shí),電子或

激光激光功率計(jì)探頭原理及校準(zhǔn)

功率計(jì)探頭

激光功率計(jì)探頭原理

光電探頭

光電二極管原理:光電二極管的核心部分是個(gè)PN 結(jié),當(dāng)在PN 結(jié)加上適當(dāng)反向電壓時(shí),由于缺乏載流子, PN 結(jié)內(nèi)無電流通過。當(dāng)光子照射在PN 結(jié)上時(shí),電子或空穴擺脫束縛,在PN 結(jié)內(nèi)形成光生載流子,光生載流子在電場(chǎng)的作用下產(chǎn)生漂移而形成電流,電流的大小和入射光的能量成比例。

熱電堆探頭

熱電堆原理:熱電堆功率計(jì)就是利用當(dāng)激光被探頭表面的膜層吸收掉轉(zhuǎn)化成熱量,熱量向熱電偶傳遞并形成溫度梯度場(chǎng),熱電堆探頭內(nèi)外兩個(gè)節(jié)點(diǎn)由于溫度差產(chǎn)生溫差電動(dòng)勢(shì),電動(dòng)勢(shì)的大小與入射光轉(zhuǎn)化的熱量成比例。

熱釋電探頭

熱釋電原理:當(dāng)某些晶體受熱時(shí),晶體就會(huì)產(chǎn)生極化現(xiàn)象,使晶體兩端產(chǎn)生極化電荷,在晶體的兩端鍍上金屬層,構(gòu)成了一個(gè)電容器。則在溫度梯度作用下,極化的電荷集結(jié)在電容器的兩端,產(chǎn)生電壓信號(hào)。電壓信號(hào)與探測(cè)器膜層吸收光轉(zhuǎn)化的熱量形成的溫度梯度成正比。熱釋電探頭不適合探測(cè)連續(xù)或長(zhǎng)脈寬的激光,因?yàn)殡娙萜鞯拇鎯?chǔ)的電荷容易飽和。

BeamTrack

BeamTrack 原理:BeamTrack 可以探測(cè)功率、能量中心的位置、光斑大小。BeamTrack 將由熱電偶串連起來的熱電堆再引出三個(gè)電極,從而可以分別得到四個(gè)象限的電壓值,根據(jù)四個(gè)象限的電壓信號(hào),可以計(jì)算到能量中心在四個(gè)象限的位置。

 

以色列OPHIR 公司成立于1976 年,擁有40 年的激光功率計(jì)、能量計(jì)測(cè)試設(shè)備的研發(fā)和生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)。其產(chǎn)品種類齊全;測(cè)試準(zhǔn)確、使用方便,被廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)和醫(yī)療等各領(lǐng)域。自2006 年收購(gòu)了激光光斑/ 光束分析領(lǐng)域的龍頭企業(yè)美國(guó)SPIRICON 公司后,成為全方位激光量測(cè)設(shè)備供應(yīng)商。其產(chǎn)品通過代理渠道銷往世界各地多于35 個(gè)國(guó)家,其中最大的市場(chǎng)在美國(guó)、歐洲和日本。近年來隨著先鋒科技在中國(guó)區(qū)不懈推廣,中國(guó)區(qū)也成為其最大的市場(chǎng)之一。高校科研院所及激光工廠隨處可見的OPHIR 功率計(jì)也經(jīng)證明了這一點(diǎn)。

 

Ophir 的校準(zhǔn)能力

對(duì)于激光量測(cè)產(chǎn)品來講,校準(zhǔn)是最為重要。為了保證您激光測(cè)量設(shè)備的校準(zhǔn),Ophir 采取了比別的廠家更多的措施。從膜層吸收曲線上,我們可以了解到只校準(zhǔn)一個(gè)波長(zhǎng)是遠(yuǎn)遠(yuǎn)不夠的。只有Ophir 擁有全套的校準(zhǔn)激光線和一系列的在NIST 和PTB 校準(zhǔn)的探頭作為母探頭。可以校準(zhǔn)客戶要求的波長(zhǎng)或在要求波長(zhǎng)附近給予高精度的校準(zhǔn)。更進(jìn)一步同時(shí)使用NIST 和PTB 可追溯的波長(zhǎng)去核對(duì)校準(zhǔn)曲線,必要時(shí)予以校正。除了校準(zhǔn)波長(zhǎng)這個(gè)因素外,同時(shí)還有許多有待校準(zhǔn)的錯(cuò)誤源。比如探頭表面不同位置處的非線性的變化、脈沖頻率對(duì)熱釋電探頭的影響等。我們?cè)谛?zhǔn)的同時(shí),考慮了所有的可能引起校準(zhǔn)精度的因素。

 

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