日本電子推出新探測器“4DCanvas”
作者： 2017年08月03日 來源： 瀏覽量：
字號：T | T
【中國儀表網儀表新品】2017年7月，日本電子發布新的STEM(掃描透射電子顯微鏡)探測器“4DCanvas”。 作為一種新穎的新型探測器，“4DCanvas”可以記錄所有傳輸、衍射和散射電子的位置和強度
【中國儀表網 儀表新品】2017年7月，日本電子發布新的STEM(掃描透射電子顯微鏡)探測器“4DCanvas”。
作為一種新穎的新型探測器，“4DCanvas”可以記錄所有傳輸、衍射和散射電子的位置和強度，作為STEM圖像的每個像素的二維(2D)圖案。
該像素化檢測器的傳感器是具有264×264像素的直接電子檢測CCD。換句話說,這是一款高靈敏度的多通道檢測器。該檢測器的記錄數據為4維(4D)，其軸為STEM像素位置的x和y，檢測器像素位置為u&v。
預計未來“4DCanvas”的潛在應用會增加，“4DCanvas”的研發將為電子顯微鏡的用戶提供一個平臺，就像在畫布上自由繪制地圖一樣。
(原標題：日本電子發布新型STEM探測器“4DCanvas”)
全球化工設備網（http://www.tupvw34.cn ）友情提醒，轉載請務必注明來源:全球化工設備網！違者必究.
標簽：
相關資訊
免責聲明：1、本文系本網編輯轉載或者作者自行發布，本網發布文章的目的在于傳遞更多信息給訪問者，并不代表本網贊同其觀點，同時本網亦不對文章內容的真實性負責。
2、如涉及作品內容、版權和其它問題，請在30日內與本網聯系，我們將在第一時間作出適當處理！有關作品版權事宜請聯系：+86-571-88970062
2、如涉及作品內容、版權和其它問題，請在30日內與本網聯系，我們將在第一時間作出適當處理！有關作品版權事宜請聯系：+86-571-88970062
推薦資訊