閥門鍛鋼件超聲波檢測(cè)（一）

3.3.4、雙晶直探頭試塊:

3.3.4.1、工件檢測(cè)距離小于45rnm時(shí)，應(yīng)采用CS II標(biāo)準(zhǔn)試塊。

3.3.4.2  CS II試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合圖2和表2的規(guī)定。

3.3.5、檢測(cè)面是曲面時(shí)，應(yīng)采用CSIII標(biāo)準(zhǔn)試塊來(lái)測(cè)定由于曲率不同而引起的聲能損失，其形狀和尺寸按圖3所示。

圈2  CS II標(biāo)準(zhǔn)試塊

表2  CS II標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸

圖3 CSIII標(biāo)準(zhǔn)試塊

3.4、藕合劑

應(yīng)采用機(jī)油、甘油、油脂等透聲性能好，且不損害工件的藕合劑。

4、檢測(cè)方法

4.1、檢測(cè)時(shí)機(jī)及準(zhǔn)備

4.1.1、檢測(cè)應(yīng)安排在最終熱處理后進(jìn)行。若因熱處理后工件形狀不適于超聲檢測(cè)，也可將無(wú)損檢測(cè)安排在熱處理前進(jìn)行，但熱處理后.，仍應(yīng)對(duì)其盡可能完全的無(wú)損檢測(cè)。

4.1.2、工件表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢測(cè)合格，所有影響超聲檢測(cè)的油污、銹蝕、飛濺等都應(yīng)予以清除。

4.1.3、凡圈形鍛件，應(yīng)機(jī)樹功A工出圓柱形表面，以便作徑向檢驗(yàn)。鍛件的端面應(yīng)加工成與鍛件軸線垂直，以便于進(jìn)行軸向檢測(cè).。瑙盤形和矩形鍛件的表面應(yīng)加工平整，而且要相互平行。其表面粗糙度Ra不大于6。3μm。

4.2、掃查

4.2.1、為確保檢測(cè)時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭每相鄰兩次掃查其熏疊部分應(yīng)大于探頭晶片直徑的15%。

4.2.2、掃查時(shí)，探頭的移動(dòng)速度不得大于15mm/s

4.2.3、主要檢測(cè)部位:截面交變區(qū)、轉(zhuǎn)角、鍛造流線轉(zhuǎn)變區(qū)。

4.2.4、如有可能，工件的所有部分應(yīng)從兩個(gè)相互垂直的方向作掃查。如圖4所示。

4.2.5、大型自由鍛件以縱波直探頭為主:筒、環(huán)輔以橫波斜探頭。

4.2.6、各類模鍛件可采用縱波直探頭;厚度低于45mm時(shí)，采用雙晶探頭;某些特殊部位可采用小角度探頭補(bǔ)充。

4.2.7、因工件幾何形狀復(fù)雜而掃查不到的滾域，應(yīng)在檢測(cè)報(bào)告中予縱注明。

a閥蓋

d}閥體

圈4 相互垂直的方向作掃查

4.3、工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測(cè)定

4.3.1、在工件無(wú)缺陷完好區(qū)域，選取三處檢測(cè)面與底面平行且有代表性的部位，調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度(B1)為滿刻度的50%，記錄此時(shí)衰減器的讀數(shù)，再調(diào)節(jié)衰減器，使第二次底面回波幅度(B2)為滿刻度的50%，兩次衰減器讀數(shù)之差即為(B1-B2)的dB差值。

4.3.2、衰減系數(shù)按式(1)計(jì)算:

式中:

a——衰減系數(shù)，單位為dB/m(單程);

B1-B2——兩次衰減器的讀數(shù)之差，單位為dB;

T——工件的檢測(cè)厚度，單位為m。

4.3.3、工件上三處部位衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。

4.4、檢測(cè)靈敏度的確定

4.4.1、.縱波直探頭檢測(cè)靈敏度的確定

當(dāng)被檢部位厚度大于或等于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度，且探測(cè)面與底面平行時(shí)，原則上可采用底波于算法確定檢測(cè)靈敏度。對(duì)由于幾何形狀所限，不能獲得底波或探測(cè)厚度大于45mm而小于3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，可直接采用CS I標(biāo)準(zhǔn)試塊確定檢測(cè)靈敏度。

4.4.2、雙晶直探頭檢測(cè)靈敏度的確定

選擇不同直徑平底孔的cs II試塊，依此測(cè)試一組不同探測(cè)距離的平底孔(至少三個(gè))。調(diào)節(jié)衰減器·作出距離，波幅曲線，并以此作為檢測(cè)靈敏度。

4.5、補(bǔ)償

4.5.1、表面藕合補(bǔ)償

在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由表面粗糙度引起的藕合損失進(jìn)行補(bǔ)償。

4.5.2、材質(zhì)衰減補(bǔ)償

在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由材質(zhì)衰減引起的檢濺靈敏度下降和缺陷當(dāng)量誤差進(jìn)行補(bǔ)償。

4.5.3、曲面補(bǔ)償對(duì)探測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)采用油率半徑或相近似的試塊，否則應(yīng)補(bǔ)償因曲率不同引起的聲能損失。

4.6、檢測(cè)系統(tǒng)的復(fù)核

遇有下述情況之一時(shí)，應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核:

——校準(zhǔn)后的探頭，藕合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí);

——檢測(cè)人員懷疑掃描量或掃查靈敏度有變時(shí);

——連續(xù)工作達(dá)45h時(shí);

——工作結(jié)束時(shí)。

4.6.1、如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描線讀數(shù)的10％,則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整。

4.6.2、一般對(duì)距離一波幅曲線的校核不應(yīng)少于三點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)輻度誤差超過(guò)2dB時(shí)，則距離一波幅曲線應(yīng)重新調(diào)整。

4.6.3、凡檢測(cè)系統(tǒng)重新調(diào)整后，對(duì)上一次校準(zhǔn)以來(lái)所檢查的工件進(jìn)行復(fù)探。

4.7、缺陷當(dāng)量的確定

4.7.1、被檢缺陷的深度大于或等于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，采用AVG曲線及計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量。對(duì)于3倍近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用單直探頭或雙晶直探頭的距離一波幅曲線來(lái)確定缺陷當(dāng)量，也可采用其他等效方法來(lái)確定。

4.7.2、缺陷密集區(qū)和單個(gè)大缺陷的邊界可利用半波方法來(lái)測(cè)定。

4.7.3、計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí)，若材質(zhì)衰減系數(shù)超過(guò)4dB/m，應(yīng)進(jìn)行修正。

4.8、缺陷記錄

4.8.1、記錄當(dāng)量平底孔直徑超過(guò)砂Φ4mm的單個(gè)缺陷的波幅和位置。

4.8.2、密集區(qū)缺陷:在50mm X 50mm的方塊范圍內(nèi)，存在五個(gè)或以上超過(guò)Φ3mm當(dāng)量平底孔直徑的缺陷區(qū)域?yàn)槊芗瘏^(qū)。記錄密集g最大當(dāng)量缺陷的位置和缺陷的分布。

4.8.3、記錄由缺陷引起的底面回波降低區(qū)域和數(shù)值。

4.8.4、記錄材質(zhì)衰減系數(shù)。

4.8.5、不屬于上述情況，但檢測(cè)人員能判定是危害性的缺陷也應(yīng)予以記錄。

5、缺陷等級(jí)分類

5.1、單個(gè)缺陷的等級(jí)分類按表3規(guī)定。

表3 單個(gè)缺陷的等級(jí)分類

5.2、缺陷密集區(qū)的等級(jí)分類按表4規(guī)定。

表4 缺陷密集區(qū)的等級(jí)分類

5.3、由缺陷引起的底波降低量等級(jí)分類按表5的規(guī)定。

表5 底波降低量等級(jí)分類

5.4、表3.表4和表5的等級(jí)在評(píng)定工件質(zhì)量時(shí)，應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用。5.5、被檢測(cè)人員判定為危險(xiǎn)性的缺陷，應(yīng)評(píng)為4級(jí)。裂紋評(píng)為4級(jí)。

5.6、根據(jù)圖樣、工藝等技術(shù)文件或合同要求進(jìn)行驗(yàn)收。

6、檢測(cè)報(bào)告

檢測(cè)報(bào)告應(yīng)包括下述內(nèi)容:

6.1、委托檢測(cè)的單位，檢測(cè)報(bào)告編號(hào)，簽發(fā)日期。

6.2、鍛鋼件的名稱、編號(hào)、材料牌號(hào)·、熱處理狀態(tài)、檢測(cè)面的表面粗糙度。

6.3、探傷儀的型號(hào)、探頭型號(hào)、檢測(cè).頻率、禍合劑、檢測(cè)靈敏度和掃查方式

6.4、在草圖上，標(biāo)明檢測(cè)區(qū)域。如有因幾何形狀限制而檢測(cè)不到的部位也必須在草圖上標(biāo)明。6.5缺陷的類型、尺寸和位置。

6.6、缺陷等級(jí)和檢測(cè)結(jié)論。

6.7、檢測(cè)人員和審核人員簽字。檢測(cè)人員的資格證號(hào)、等級(jí)和日期。