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照明設備測試方案

作者: 2015年07月02日 來源:互聯網 瀏覽量:
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隨著科學技術的不斷發展,特別是進入20世紀90年代以來,信息控制技術和微電子元件或組件在照明設備中的應用日益廣泛,照明設備中注入新的功能,從原先的單一照明功能發展到多功能控制、調節、保護、信息傳遞等。

  隨著科學技術的不斷發展,特別是進入20世紀90年代以來,信息控制技術和微電子元件或組件在照明設備中的應用日益廣泛,照明設備中注入新的功能,從原先的單一照明功能發展到多功能控制、調節、保護、信息傳遞等。在日趨復雜的電磁環境下,照明設備受靜電放電、射頻/工頻電磁場、浪涌、電快速瞬變脈沖群、電壓波動等電磁騷擾的影響越來越明顯,甚至出現照明設備信息傳遞錯誤、動作錯誤、工作異常等現象。

  為了使照明設備在越來越嚴酷的電磁環境中正常工作,安科瑞電氣測試中心參照國家標準/行業規范,針對LED模塊用直流或交流電子控制裝置照明設備制定了以下測試方案:  

 

  注:  1.電快速瞬變脈沖群試驗:

  a) 1級適用于信號/控制端口/、直流電源輸入/輸出端口;

  b)2級適用于交流電源輸入/輸出端口;

  2.浪涌抗擾度試驗:

  a)1級適用于相線中≤25W的燈具及獨立式附件;

  b)2級適用與相線/地線中≤25W的燈具及獨立式附件、相線中>25W的燈具及獨立式附件;

  c)3級適用于相線/地線中>25W的燈具及獨立式附件。

 

  作者簡介:戴金花,女,本科,江蘇安科瑞電器制造有限公司,主要研究方向為智能建筑供配電監控系統。Email:2880157871@qq.com QQ:2880157871 手機:18860995103 電話:0510-86179967 傳真:0510-86179963網址:http://www.acrel-et.com/

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標簽:照明設備 測試方案

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