跌落試驗(yàn)機(jī)的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)與規(guī)范

本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)IEC 68-2-32（1975年第二版）《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Ed：自由跌落》、1982年的第一次修改和1990年的第二次修改。

　　本標(biāo)準(zhǔn)代替GB 2423.8—81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Ed：自由跌落試驗(yàn)方法》和GB 2424.6—81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　自由跌落試驗(yàn)導(dǎo)則》。

　　GB 2423.8—81和GB 2424.6—81是參照IEC 68-2-32（1975年第二版）《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Ed：自由跌落》起草的。

　　本標(biāo)準(zhǔn)在技術(shù)內(nèi)容、編寫格式和規(guī)則上都與IEC 68-2-32（1975）、1982年的第一次修改文本，1990年的第二次修改文本完全相同。本標(biāo)準(zhǔn)與前版的主要區(qū)別在于：

　　將GB 2423.8和GB 2424.6兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)合并成一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.8；

　　按IEC 68-2-32，1982年和1990年的兩次修改，對(duì)方法二和附錄A作了修改，補(bǔ)充了附錄B。

　　下列四項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)與本標(biāo)準(zhǔn)均屬撞擊試驗(yàn)范疇，有關(guān)規(guī)范應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的使用和運(yùn)輸?shù)木唧w情況選擇合適的試驗(yàn)方法。

　　GB/T 2423.5—1995　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊；

　　GB/T 2423.6—1995　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞；

GB/T 2423.7—1995　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則：傾跌與翻倒（主要用于設(shè)備型樣品）；

GB 2423.39—1990　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Ee：彈跳試驗(yàn)方法。