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STEM探測器

日本電子發布新的STEM探測器“4DCanvas”(2017-08-07)

2017年7月，日本電子發布新的STEM(掃描透射電子顯微鏡)探測器“4DCanvas”。　　作為一種新穎的新型探測器，“4DCanvas”可以記錄所有傳輸、衍射和散射電子的位置和強度，作為STEM圖像的每個像素的二維(2D…[詳情]

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