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晶片級測量
安捷倫和康思德聯(lián)手研發(fā)晶片級測量解決方案(2014-06-24)
【摘要】安捷倫科技公司和康思德精密科技有限公司日前宣布雙方結成戰(zhàn)略合作關系，旨在為客戶提供經(jīng)過全面配置和驗證的射頻測量解決方案，該解決方案不僅能夠簡化晶片級半導體測量，而且還能提供有保…[詳情]
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